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高频低阻电解电容容衰的真正原因

发布时间:2015-05-25 16:45:47  浏览次数:
击穿失效
开关稳压电源用铝电解电容器的击穿失效分为介质击穿和热击穿二种类型。铝电解电容器发生介质击穿最主要的特征是阳极铝箔有明显的击穿点,击穿点往往烧通阳极铝箔形成空洞,高压铝电解电容器介质击穿时还会烧通衬垫纸和阴极箔。热击穿是开关稳压电源用铝电解电容器经常发生的另一种击穿失效形式。对于大功率和大电流输出的开关稳压电源用高频低阻电解电容,热击穿失效常占一定比例。
开路失效
电腐蚀导致铝引出条断裂和电容器芯子干涸,是开关稳压电源用高频低阻电解电容开路失效的主要失效模式。八十年代起,我国彩电用铝电解电容器开始国产化,当时国内电子元件学术界对阳极引线导针腐蚀断裂使得电容器正极端引出线(引出箔)开路失效机理进行了认真的研究。国内铝电解电容器同行进行了技术攻关,已经基本解决了这一技术问题。然而近几年来五所研究分析中心受理的元件失效分析任务中,又发现多起开关稳压电源用铝电解电容器开路失效的失效模式。这一情况,必须引起我们高度重视。电容器芯子干涸,是导致开关稳压电源用高频低阻电解电容开路失效的另一类失效模式。而铝壳空腔内的高气压和漏液是产生电容器芯子干涸的根源。
漏液失效
漏液是开关稳压电源用铝电解电容器常见的失效模式,由于使用环境及工作状态较严酷,常发生漏液失效。
电参数超差失效
开关稳压电源用铝电解电容器在使用中最常见的失效模式是电容量减少、漏电流增大及损耗角正切值增大。
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